RM3544微電阻計是精密電子測量設備,廣泛應用于材料研究、半導體測試、低電阻測量等領域。為確保其長期穩(wěn)定性和測量準確性,規(guī)范的維護與保養(yǎng)至關重要。
1.清潔與防塵
外殼清潔:使用柔軟干布擦拭機身,避免使用含纖維的布料或有機溶劑,以防腐蝕涂層或殘留痕跡。
接口保護:定期檢查測試線、BNC接口、USB接口等是否松動或污染,用無塵棉簽輕拭灰塵,避免金屬屑進入。
傳感器防護:若設備配有溫度/濕度傳感器,確保其表面無凝結水或污漬。
2.測試線管理
使用四線制測試法時,確保測試線(尤其是電流線和電壓線)無破損、老化或接觸不良。
測試線收納時避免纏繞過度,防止導線內部斷裂或短路。
定期檢查開爾文夾的彈簧片和接觸點,確保壓力適中且無氧化。
3.環(huán)境控制
避免設備暴露在潮濕、高溫或強磁場環(huán)境中。
長時間不用時,放入防潮箱并放置干燥劑。
二、RM3544微電阻計周期性校準與校驗:
1.校準周期
建議頻率:根據(jù)使用強度,每3~6個月進行一次校準(或按制造商推薦周期執(zhí)行)。
校準內容:包括零點校準(短路電阻歸零)、滿量程校準(標準電阻比對)以及溫度補償修正。
2.校準方法
零點校準:
關閉電源,短接測試輸入端(如電流線和電壓線短接),開機后通過菜單設置將測量值調至“0.00Ω”。
量程校準:
使用高精度標準電阻,輸入標稱值并調整校準參數(shù),確保顯示值與標準值誤差在允許范圍內。
溫度補償校驗:
若設備支持溫度自動補償,需在溫控環(huán)境下(如恒溫箱)驗證不同溫度下的測量一致性。
3.校準注意事項
使用與設備匹配的標準電阻(如四端子電阻,避免兩線制電阻的引線電阻干擾)。
校準前預熱設備至少30分鐘,確保內部電路穩(wěn)定。
記錄校準數(shù)據(jù)并保存至設備內存或外接存儲介質。
